摘要
本申请属于功率器件技术领域,提供了一种终端结构的制备方法、芯片,在N型碳化硅衬底的正面形成N型漂移区,在N型漂移区上形成主结,在主结的末端预设区域进行刻蚀形成尾部沟槽,使得尾部沟槽的第一侧倾角小于16°,尾部沟槽的第二侧壁延伸至芯片边缘,其中,尾部沟槽的第一侧与主结之间为场限环区域,从而仅需增加结终端扩展区和尾部沟槽的掩膜工艺下,结合场限环、结终端扩展区和沟槽结构,在保证器件耐压性能的情况下,有效缩小终端长度,减少芯片的面积占用。
技术关键词
终端结构
N型碳化硅衬底
绝缘介质材料
P型杂质
场限环结构
硬掩膜
碳化硅功率器件
隔离沟槽
湿法刻蚀工艺
干法刻蚀工艺
离子注入工艺
功率器件技术
芯片
掩膜工艺
光刻胶
沟槽结构
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绝缘介质材料
场限环结构
终端
隔离沟槽
沟槽结构
N型衬底
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P型掺杂区
肖特基二极管