一种IC遗漏检测系统

本发明提供了一种IC遗漏检测系统，其采用X光机检测托盘IC芯片遗漏，距离检测传感器检测托盘形变翘曲，视觉检测系统进行不同规格型号的区分，节约了人力成本，同时提高了检测准确度和生产效率。其包括：上位机；PLC控制系统；以及末端的上料控制系统、下料控制系统、X光机检测系统、翘曲检测系统、以及视觉检测系统；PLC控制系统具备通信和逻辑处理功能，负责接收和处理来自上料控制系统、下料控制系统、X光机检测系统、翘曲检测系统、以及视觉检测系统获取的数据，并将处理后的数据传输上位机，所述上位机通过通讯协议连接PLC控制系统。