摘要
本发明提供一种带金属划线区的半导体芯片切割方法,半导体芯片具有多个半导体芯片形成区域和分隔多个半导体芯片形成区域的划线区域,且划线区域中设有划片道金属,所述切割方法包括:通过激光烧蚀所述划片道金属形成开口槽,所述开口槽的深度小于或等于所述划片道金属的厚度;基于所述开口槽,通过划线轮和预设应力对所述半导体芯片进行划线裂片工艺,以使所述多个半导体芯片形成区域分隔。本发明的切割方法其开槽宽度小,提高了芯片利用率;工艺步骤简单,节省了切割成本和切割时间。
技术关键词
半导体芯片
切割方法
激光烧蚀
裂片工艺
超短脉冲激光
扩膜工艺
背面金属层
开槽宽度
应力
保护液
保护膜
衬底
涂覆
正面
参数
系统为您推荐了相关专利信息
焊接平台
输送轨
半导体芯片
连续输送基板
转移托盘
射频前端芯片
外延
压电滤波器
低噪声放大器
分区
待测芯片
扫描检测装置
压电悬臂梁
测试基板
测试电路
芯片结构
半导体芯片
半导体封装件
半导体衬底
穿通件
金属引线框
塑封结构
金属雕刻刀
板材
半导体芯片封装