芯片测试系统、方法及装置

本申请涉及芯片测试系统、装置及方法。芯片测试系统包括通信连接的服务器和嵌入式测试装置。服务器配置为：存储测试程序，并向嵌入式测试装置加载所存储的测试程序；嵌入式测试装置配置为：运行测试程序，以对与嵌入式测试装置连接的一个或多个待测芯片进行测试，测试程序在运行时并行地同时实现对待测芯片的算力负载测试和内存压力测试。根据本申请的芯片测试系统、装置及方法，能够显著提高测试效率，并能准确反映芯片在实际业务场景中的真实性能。