一种下压式IC芯片检测装置

本发明涉及芯片检测设备技术领域，提供一种下压式IC芯片检测装置，包括工作台，所述工作台上表面固定设置有支架以及用于固定IC芯片的芯片固定结构；所述支架上设置有连接板，所述连接板上固定安装有下压机构，所述下压机构上连接有向下设置的探针头，所述下压机构带动探针头沿竖直方向上下来回移动，所述下压机构与探针头之间设置有用于调整探针头角度的调整机构。该下压式IC芯片检测装置，在对芯片检测前通过用于调整探针头角度的调整机构可自动调整探针头补偿芯片的放置角度，提升检测准确性，避免探针与芯片损伤。