基于银-金等离激元共振结构的高灵敏度折射率测量方法

本发明属于光学精密测量领域，尤其涉及一种基于银‑金等离激元共振结构的高灵敏度折射率测量方法。在相位探测型表面等离激元共振(Surface plasmon resonance,SPR)传感技术基础上，将传统Kretschmann激发结构中的单层金属膜优化为银‑金双层金属膜。由于银层具有更高的SPR激发效率，而使激发结构具有高折射率测量灵敏度，而银层上方的金层可有效防止银层被氧化从而使激发结构具有高稳定性，因而兼具高折射率测量灵敏度和高稳定性。通过设计结构参数优化算法，以折射率测量灵敏度为目标函数，计算针对待测样品的最优银‑金厚度，结合表面等离激元共振全息显微术，可实现待测电介质样品折射率微小变化过程的极高灵敏度测量，实际测量折射率变化幅度量级可达10‑7RIU。