基于多光谱成像的液晶玻璃缺陷检测方法、系统及设备

本发明公开了基于多光谱成像的液晶玻璃缺陷检测方法、系统及设备，涉及视觉检测技术领域。所述方法包括：对液晶玻璃样本进行多光谱成像采集，获得多光谱图像数据集；对多光谱图像数据集进行配准降维，提取光谱特征进行图像融合，生成多光谱融合图像；基于多光谱融合图像进行多分支缺陷识别，调取缺陷特征数据库结合缺陷识别结果进行增量学习，生成缺陷特征优化数据库；对缺陷识别结果进行自动归类，基于缺陷分类结果映射至多光谱图像数据集进行回溯验证，构建缺陷检测报告。解决了现有技术中液晶玻璃缺陷检测精度不足且检测覆盖不全面的技术问题，达到了通过多光谱融合成像提升缺陷识别覆盖率并提高缺陷检测精度的技术效果。