摘要
本申请涉及半导体封装技术领域,公开了一种封装结构,包括封装基板、若干个第一连接结构和芯片结构;所述第一连接结构包括第一基板焊盘、第一焊锡球和第一导电端子,其中第一基板焊盘设置在封装基板的第一焊接区域,第一导电端子设置在所述芯片结构朝向封装基板的表面上,第一焊锡球连接在第一基板焊盘和第一导电端子之间,所述第一焊锡球的内部具有熔点比锡高的内核。本申请提出的封装结构可以减少连锡的发生,提高封装结构的性能。
技术关键词
封装基板
封装结构
芯片结构
导电端子
焊锡球
焊盘
半导体封装技术
铜球
内核
椭球状
间距
长轴
合金
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