可调节测试装置

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可调节测试装置
申请号:CN202410741193
申请日期:2024-06-11
公开号:CN118311400B
公开日期:2024-08-23
类型:发明专利
摘要
本申请涉及一种可调节测试装置。可调节测试装置用于检测待检测样品,可调节测试装置包括:基座、传感组件以及调节机构,传感组件包括沿第一方向间隔设置的第一传感器及第二传感器,第一传感器及第二传感器配合,用于检测待检测样品的预设参数;调节机构沿第二方向可滑动连接基座,以调节传感组件与基座的相对位置;调节机构还用于调节第一传感器与第二传感器之间的距离,第一方向与第二方向相交。可调节测试装置中第一传感器与第二传感器之间的距离可调,使得可适应不同尺寸的晶圆并对晶圆进行感测。
技术关键词
调节测试装置 子板 传感器 传感组件 滑动件 轨道组件 轨道件 承载板 传动件 基座 机械臂 滑块 滑槽 参数 运动 尺寸
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