一种试卷识别方法、装置、设备、介质及产品

本申请公开了一种试卷识别方法、装置、设备、介质及产品，方法包括：对待处理试卷图像与模板试卷图像分别进行划题处理，对应获得第一划题结果与第二划题结果；根据第一划题结果或第二划题结果从第一仿射变换算法和第二仿射变换算法中确定目标仿射变换算法，利用目标仿射变换算法获得待处理试卷图像与模板试卷图像之间的仿射变换矩阵；利用仿射变换矩阵对第一定位框信息或第二定位框信息进行变换，并基于变换后定位框信息进行文本识别，获得试卷识别结果。本申请能够避免定制定位信息所带来的干扰。