摘要
本发明公开了一种MEMS芯片的制备方法,属于微机电系统制造技术领域。该制备方法包括:在晶圆表面沉积一层贵金属层;在贵金属层表面沉积一层牺牲层;对牺牲层图形化,以在牺牲层上形成目标图形;以图形化的牺牲层作为硬掩模,对贵金属层进行物理刻蚀,以在贵金属层上形成目标图形;以图形化的牺牲层和贵金属层作为硬掩模,对晶圆进行刻蚀,以在晶圆上形成目标图形;去除牺牲层。该制备方法通过在图形化贵金属层后,图形化晶圆前,在贵金属层表面沉积一层牺牲层,以对贵金属层进行保护,实现了在小尺寸结构上贵金属层的选择性沉积。
技术关键词
MEMS芯片
硬掩模
刻蚀工艺
晶圆表面沉积
湿法刻蚀方法
光刻胶
微机电系统
光刻技术
氮化钛
离子束
物理
铝铜
多晶硅
氮化硅
氧化硅
周期性
单体
合金
系统为您推荐了相关专利信息
微型发光二极管
台面
透明电极
多量子阱层
AlN缓冲层
超构透镜
红外焦平面探测器
红外光
周期性
表面微纳结构
流量传感器芯片
拱形结构
氮化硅层
氧化硅
孔洞结构
ASIC芯片
MEMS芯片
MEMS传感器
封装结构
外壳