一种测试装置及测试机

本发明提供一种测试装置及测试机，涉及芯片领域。该测试装置包括多个测试机构、飞梭机构和第一夹取机构，多个测试机构分为多组，多组测试机构分别设置于不同高度处，同组的测试机构沿第一方向依次设置，且测试机构能够接收并测试芯片；飞梭机构具有至少一个载料部，载料部能够沿所述第一方向移动，且载料部能够承载至少一个芯片；第一夹取机构至少能够将芯片在测试机构和所述载料部之间转移。本发明提供的测试装置通过改变测试装置的布局，进而可在增加测试机构数量的基础之上，缩小测试装置的体积，且能够有效缩小机械手移动范围，进而提升生产效率。