摘要
一种利用混合键合技术制备晶圆级系统级封装的结构及方法。该封装结构及方法可以实现CIS芯片与其他种类芯片晶圆级封装。(1)利用Hybrid Bonding键合技术进行键合,该技术能够实现更高密度触点连接(在1×1cm的芯片内,能够制作出超过一百万的触点)和更小接点间距连接(间距可以微缩到1微米以下)。(2)将CIS芯片与其他种类芯片集成,实现高性能、低功耗、小型化、异质工艺集成、低成本的系统集成电子产品的制备。(3)整个封装流程为晶圆级封装,封装效率高、成本低、产能大。
技术关键词
导电通孔结构
导电结构
CIS芯片
封装结构
重布线层
混合键合技术
键合结构
粘贴保护膜
系统级封装
晶圆级结构
封装芯片
封装工艺流程
凹槽型
晶圆级封装
绝缘材料
导电层
保护膜层
系统为您推荐了相关专利信息
NTC热敏电阻
功率模块
NTC温度检测
封装结构
芯片测温方法
碳化硅功率器件封装结构
碳化硅芯片
陶瓷环
金属散热片
装饰环
半导体封装结构
布线基板
光刻胶
芯片
半导体材料表面