一种空洞率低的锡焊膏及其制备方法和在电子元器件封装中的应用

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一种空洞率低的锡焊膏及其制备方法和在电子元器件封装中的应用
申请号:CN202411130897
申请日期:2024-08-16
公开号:CN118893362B
公开日期:2025-06-27
类型:发明专利
摘要
本发明涉及锡焊膏技术领域,且公开了一种空洞率低的锡焊膏及其制备方法和在电子元器件封装中的应用,其材料包括金属粉末、助焊剂组分以及添加剂;金属粉末:锡96.5%、银3.0%、铜0.5%。该空洞率低的锡焊膏及其制备方法和在电子元器件封装中的应用,由于采用了精细的金属粉末处理和特定的助焊剂配置,本发明的锡焊膏在电子组件的焊接过程中能显著降低焊点中的空洞率,这种低空洞率直接提高了焊点的机械强度与电气稳定性,从而提供了更高的连接可靠性,添加纳米银粒子和碳纳米管作为添加剂不仅增强了焊点的机械强度,也优化了热导率和电导率,通过使用环保型松香和硅烷偶联剂作为活化剂和防氧化剂。
技术关键词
电子元器件封装 焊点 助焊剂 锡焊膏 X射线检测设备 球磨机 纳米银粒子 硅烷偶联剂 添加剂 碳纳米管 高精度电子秤 氧化剂 混合金属粉末 环保型 松香 低空洞率 化学镀方法 图像处理算法
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