calibration测试结构的电容值确定方法、电容校准方法、MOMCAP电容建模方法

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calibration测试结构的电容值确定方法、电容校准方法、MOMCAP电容建模方法
申请号:CN202411618907
申请日期:2024-11-13
公开号:CN119578328A
公开日期:2025-03-07
类型:发明专利
摘要
本实施例提供一种calibration测试结构的电容值确定方法、电容校准方法、MOMCAP电容建模方法。电容值确定方法包括:获取包含多组校准结构的测试对象,这些校准结构与同一MOMCAP标准测试结构相关联;从所述多组校准结构中,根据特定的参数组合,选择出具有代表性的若干组校准结构;对所选出的各组校准结构分别进行电容值测试,获取相应的实测电容值数据;基于这些实测电容值数据,分析并确定校准电容值与所选参数之间的函数关系;利用所述函数关系,推算出其他具有不同参数组合的校准结构的电容值。本申请实施例高效获取MOMCAP电容calibration数据,减少芯片占用面积,减轻测试压力,从而提高器件建模效率。
技术关键词
校准结构 测试结构 电容建模方法 电容校准方法 电路仿真系统 电路仿真方法 对象 数据 关系 参数 主机 芯片 压力 尺寸
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