划片道缺陷的检测方法、检测系统及存储介质

本发明提供了一种划片道缺陷的检测方法、一种划片道缺陷的检测系统及一种计算机可读存储介质。所述划片道缺陷的检测方法包括以下步骤：获取待测样品上多个晶粒之间的多个划片道的第一图像；将各所述第一图像分别按照预设尺寸，分割成多个划片道片段的第二图像，并将各所述划片道的对应划片道片段的第二图像，拼接成多幅第三图像；以及解析各所述第三图像，以分别检测各所述划片道的各所述划片道片段上的缺陷。通过对大长宽比的划片道图像进行重构，本发明可以有效避免图像缩放对细小缺陷特征的破坏，从而提升对图像中划片道缺陷的检出率。