离港设备测试方法、系统、电子设备和存储介质

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离港设备测试方法、系统、电子设备和存储介质
申请号:CN202411917945
申请日期:2024-12-24
公开号:CN119690847A
公开日期:2025-03-25
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种离港设备测试方法、系统、电子设备和存储介质。其中,离港设备测试方法包括:通过虚拟串口监听功能测试指令;响应于监听到功能测试指令,利用预设指令解析规则,对功能测试指令进行解析得到解析结果;根据解析结果,从多个预设状态码场景算法中,确定目标状态码场景模拟算法;利用目标状态码模拟算法,对解析结果进行处理,确定测试结果,其中,测试结果包括状态码场景。本发明解决了离港前端产品版本升级过程中,通常需要采购大量昂贵的上述物理外设,测试成本较高的技术问题。
技术关键词
设备测试方法 非易失性存储介质 设备运行状态 设备运行参数 场景 算法 设备测试系统 存储程序指令 数据项 电子设备 计算机程序产品 模块 存储器 处理器 蜂鸣器 卡纸 离线 在线 物理
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