一种子母式W波段射频芯片测试装置

本发明提供了一种子母式W波段射频芯片测试装置，涉及W波段射频芯片测试技术领域。该装置的母板设置有多个与子单元相适配的第一安装槽，第一对接连接件的位置与第一安装槽的位置相对应；子板设置有用于安装裸片芯片或封装芯片的第二安装槽，子结构与子板设置有第一对接插头的一侧连接，子结构安装于第一安装槽内，子板通过第二连接件与第一对接连接件的配合作用与母板电连接；母板能够通过控制连接件和电源连接件对应输入控制信号和电源以为子板提供控制信号和电源。其能够以子板分别安装裸片芯片和封装芯片，不仅能够解决裸片芯片无法加电筛选和无法更换的问题，还具有同时测试不同种类射频芯片的优势，实用性和使用价值较高。