一种硅片芯片测试用样品盒

本实用新型公开了一种硅片芯片测试用样品盒，包括装置本体，所述装置本体包括第一样品卡盒和第二样品卡盒，所述第一样品卡和卡接在第一样品卡盒顶部；所述第一样品卡盒和第二样品卡盒均包括存储盒盘和存储柱，所述存储柱位于存储盒盘底部，所述存储盒盘和存储柱均为平滑过渡且一体加工成型结构，所述存储盒盘呈圆形结构，所述存储盒盘和存储柱顶部均开设有存储仓，所述存储仓呈圆柱状结构。该种装置可以对硅片芯片进行单独分隔存储，还可以对硅片芯片进行固定，防止硅片芯片出现移位损伤，从而大大保证了硅片芯片的安全性。