闪存芯片测试板

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闪存芯片测试板
申请号:CN202422006435
申请日期:2024-08-19
公开号:CN223273025U
公开日期:2025-08-26
类型:实用新型专利
摘要
本实用新型提供闪存芯片测试板,涉及芯片测试技术领域。该闪存芯片测试板,包括测试基板,所述测试基板前侧设置有插座,所述测试基板中部设置有测试座;所述测试座中部开设有凹槽,所述测试座两侧均设置有若干个安装槽触点,所述测试基板后侧固定有固定架,所述固定架上设置有连接结构,连接结构上设置有调节板和压制架;连接结构能够带着调节板和压制架以凹槽深度方向做滑动,以调节不同压力进行夹持。该闪存芯片测试板,通过人力转动丝杆进行旋转作业,实现可调节夹持的效果,达到提高芯片测试板实用性的作用,通过人力拉动移动架进行移动作业,实现便捷取料的效果,达到提高芯片测试板使用便捷性的作用。
技术关键词
测试基板 闪存芯片 测试座 芯片测试板 移动架 外表面螺纹 滑动架 固定架 芯片测试技术 丝杆 凹槽 安装槽 滑槽 触点 人力 弹簧 压力
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