一种耐高温双向可控硅结构

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一种耐高温双向可控硅结构
申请号:CN202510004008
申请日期:2025-01-02
公开号:CN119789538A
公开日期:2025-04-08
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种耐高温双向可控硅结构,包括P型外延层,P型外延层的中部形成有两第一N型well掺杂类型阱区,且两第一N型well掺杂类型阱区间隔设置,以将P型外延层分隔为第一外延层区域、第二外延层区域和第三外延层区域;第一外延层区域上的注入区内提供有第一P型高压掺杂类型阱区,第一P型高压掺杂类型阱区上的注入区内提供有第一P型well掺杂类型阱区,第一P型well掺杂类型阱区的顶端提供有第一P型重掺杂有源区和第一N型重掺杂有源区,且第一P型重掺杂有源区和第一N型重掺杂有源区被隔离设置。本发明通过在基区开槽的设计将ESD泄放路径调整到了芯片更深层次,有利于其散热,降低了其高温下的电流泄放衰减程度。
技术关键词
可控硅结构 层区域 有源区 P型外延层 浅槽隔离 三极管 高压 端口 层叠 顶端 电阻 芯片 电流
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