一种N型倒装AlGaInP层的粗化方法

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一种N型倒装AlGaInP层的粗化方法
申请号:CN202510034842
申请日期:2025-01-09
公开号:CN119923034A
公开日期:2025-05-02
类型:发明专利
摘要
本发明涉及一种N型倒装AlGaInP层的粗化方法,属于光电子技术领域。方法为,先通过高温退火使得AuBe层与薄GaAs层充分融合并渗透至N型AlGaInP层,再通过常温Au腐蚀液腐蚀掉AuBe/Au/NiGeAu膜以及薄GaAs层,高温Au腐蚀液腐蚀掉渗透在N型AlGaInP层的金属Be、Au,通过高温退火的温度控制金属Au、Be的融合和渗透以及高温腐蚀液控制腐蚀效果,避免了反极性AlGaInP四元LED芯片粗化效果不稳定的问题,增加了出光效率,提升了芯片的品质。而且,利用常规的Au腐蚀液进行N面欧姆接触图形制备和N型AlGaInP粗化,操作简便,且能得到更稳定的粗化表面,适合规模化生产。
技术关键词
欧姆接触电极 红光LED外延片 四元LED芯片 正性光刻胶 碘化钾 叠层结构 纯水 阻挡层 常温 电子束 衬底
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