摘要
本发明公开了一种集成电路金属块制作工艺,属于集成电路技术领域,包括以下步骤:准备晶圆;于晶圆上涂布PBO光敏性介电层材料;将无效区的PBO光敏性介电层材料去除;对PBO光敏性介电层材料曝光、显影、固化;在PBO光敏性介电层材料上溅射Ti/Cu金属层;在Ti/Cu金属层上涂布PR胶,对PR曝光、显影;去除PR胶的残留物;进行Cu/Ni/SnAg电镀;进行PR胶脱离;蚀刻Cu/Ti金属层;根据产品需要判断是否进行植球。本发明通过引入去除无效区PBO光敏性介电层材料的步骤,解决了PBO层翘起的难题,改善了因UBM剥离造成的芯片良率损失问题,有效杜绝了金属碎片掉落至晶圆有效芯片区域致使芯片失效的隐患,从而全方位提升了产品Bumping封装品质,本发明通用性极高,适用于所有后道Bumping封装领域。
技术关键词
集成电路金属
Cu金属层
光刻胶
晶圆
电镀
集成电路技术
蚀刻
涂布
芯片
良率
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