一种粗细粒度结合的嵌入式完整性度量方法和系统

本发明公开了一种嵌入式设备的高效完整性度量方法，首先提取所有度量对象；第一阶段涉及对这些对象进行哈希散列运算以派生多个哈希散列值；采用哈希表作为数据结构存储这些对象，以该对象类型选择键，其哈希散列值为键值；将哈希表作为基准库进行存储；然后，建模获取TOCTOU攻击检测率，拟合度量周期与CPU负载之间的函数关系，并根据该关系生成随机化周期序列，以实现资源的最大化利用；最后在随机化周期序列中随机选择度量周期，并比较当前嵌入式设备的CPU负载与嵌入式设备的CPU负载阈值，选择粗粒度或细粒度度量方案并开始度量，判断度量对象的完整性是否遭到破坏。