一种自动辅助检测的芯片缺陷视觉检测设备

本发明公开了一种自动辅助检测的芯片缺陷视觉检测设备，具体涉及芯片缺陷光学检测技术领域，包括底座、框板、联动电缸以及光学封闭定位检测机构；其中光学封闭定位检测机构包括推块、联动块、L形条、竖向盖板、定位槽条、横向盖板、联动条以及光学视觉传感器，还包括多向补光机构和光学封闭定位组件。本发明利用光学封闭定位检测机构，具有避免补光的光线受到外部光线照射影响，实现全封闭检测，大幅度提高芯片缺陷视觉检测的精确性的优点，从而解决了光学检测过程中外部光线会产生照射影响，同时补光的光线也会受到外部光线照射影响，导致芯片缺陷视觉检测精确性较差的问题。