集成芯片及其形成方法

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集成芯片及其形成方法
申请号:CN202510667046
申请日期:2025-05-22
公开号:CN120659380A
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本申请的各个实施例针对包括半导体衬底上方的下部介电结构的集成芯片(IC)。栅极结构位于下部介电结构上方。栅极结构包括与第二表面相对的第一表面。第一半导体层布置在栅极结构的第一表面和下部介电结构之间。第二半导体层位于栅极结构的第二表面上方。本申请的实施例还涉及集成芯片及其形成方法。
技术关键词
漏极结构 半导体层 栅极介电层 介电结构 栅极结构 集成芯片 半导体衬底 互连结构 半导体器件 集成电路 电极 导电 通孔 导线
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