摘要
本发明公开了一种基于DPC工艺的功率器件用氮化铝‑铜复合基板的制造方法,属于电子封装领域。上述制造方法包括以下步骤:(1)激光打孔,(2)溅射种子层,(3)光刻显影,(4)电镀铜增厚,(5)退膜刻蚀,(6)镍钯金镀覆,(7)切割。基于本发明所述的制造方法制备的氮化铝‑铜基板,通过调整功率芯片焊接区布孔密度、孔径、表面铜层厚度,可将其热导率从170‑250W/(m·K)提升至220‑330W/(m·K),实现材料热导率、膨胀系数可调节,且在表面图形高精度加工,实现电气互联。综上,本发明相比于主流的铜‑钼铜‑铜、钼铜、钨铜等金属复合材料成本更低,具有明显的价格优势,特别适合高功率器件封装应用。
技术关键词
氮化铝基板
铜复合基板
种子层
聚合物表面活性剂
铜基板
功率芯片
功率器件封装
激光
光刻掩膜版
刻蚀液
金属复合材料
电镀铜
粘接工艺
杂环化合物
电子封装
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