摘要
本申请公开了多芯片高密度连接光刻技术的实现方法、用于多芯片互连的光刻技术的实现方法、芯片级芯片互连方法、掩膜版线条的制作方法以及光刻设备,多芯片高密度连接光刻技术的实现方法包括:选择第一掩膜版通过第二对准标记与第一M×N芯片组中第一原有图形单元对准曝光,将第一掩膜版图形转移到覆盖第一原有图形单元的曝光区域;将衬底纵向移动M倍原有图形纵向尺寸或横向移动N倍原有图形横向尺寸执行对准曝光,完成其他M×N芯片组对应区域的曝光;选择其它掩膜版重复对第一M×N芯片组其他相应图形单元执行曝光,重复执行纵向移动或横向移动完成其他M×N芯片组中相应图形单元对应区域的曝光。本方案实现了多芯片高密度互连。
技术关键词
线条
对准标记
衬底
掩膜版图形
光刻设备
光刻技术
多芯片
芯片互连方法
半导体芯片
对准偏差
尺寸
互连线
载物台
高密度互连
数值
半导体结构
系统为您推荐了相关专利信息
全角度
透明导电层
布拉格反射镜
电流阻挡层
多量子阱层