多芯片高密度连接光刻技术的实现方法

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多芯片高密度连接光刻技术的实现方法
申请号:CN202510840039
申请日期:2025-06-20
公开号:CN120779676A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本申请公开了多芯片高密度连接光刻技术的实现方法、用于多芯片互连的光刻技术的实现方法、芯片级芯片互连方法、掩膜版线条的制作方法以及光刻设备,多芯片高密度连接光刻技术的实现方法包括:选择第一掩膜版通过第二对准标记与第一M×N芯片组中第一原有图形单元对准曝光,将第一掩膜版图形转移到覆盖第一原有图形单元的曝光区域;将衬底纵向移动M倍原有图形纵向尺寸或横向移动N倍原有图形横向尺寸执行对准曝光,完成其他M×N芯片组对应区域的曝光;选择其它掩膜版重复对第一M×N芯片组其他相应图形单元执行曝光,重复执行纵向移动或横向移动完成其他M×N芯片组中相应图形单元对应区域的曝光。本方案实现了多芯片高密度互连。
技术关键词
线条 对准标记 衬底 掩膜版图形 光刻设备 光刻技术 多芯片 芯片互连方法 半导体芯片 对准偏差 尺寸 互连线 载物台 高密度互连 数值 半导体结构
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