一种电容3D封装工艺方法

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一种电容3D封装工艺方法
申请号:CN202511027866
申请日期:2025-07-24
公开号:CN120854295A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电容封装技术领域,尤其涉及一种电容3D封装工艺方法;技术问题:在日常使用电容封装工艺在3D封装中存在的基板面积利用率低、层间焊接不良及后处理复杂的问题;技术方案:一种电容3D封装工艺方法,包括基板预处理、第一层电容焊接、第二层电容预处理、电容堆叠、在回流焊装置中进行焊接,并对回流焊装置温度进行分区控制以及形成IMC层步骤;本发明利用锡膏和助焊剂作为焊接介质,通过精确控制的回流焊工艺,实现多层电容的可靠堆叠焊接,实现了电容的垂直堆叠封装,显著减小了封装尺寸;通过分区温度控制,确保各层焊接质量;提高了封装密度和集成度。
技术关键词
封装工艺方法 回流焊装置 基板面积利用率 吸附压合装置 松香基助焊剂 垂直堆叠结构 分区温度控制 视觉定位系统 喷涂助焊剂 堆叠电容 回流焊工艺 助焊剂层 分区控温 焊料凸点 印刷锡膏 胶工艺 芯片封装
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